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影响密封试验结果的因素很多,其中重要的是温度和体积的变化。在检测过程中,一旦密封气体回路中的温度和体积发生变化,压力就会根据查理定律发生变化,这将对泄漏试验造成更大的偏差。
在测试过程中,被测物体一侧气体回路的空气温度变化与压差:
例t=25℃,Δt=1℃
①P=100kPaSoΔPt≒675Pa(当被测物体的温度下降时,压力下降,并出现正测量值。
②P≒-101.3kPa(真空)=0kPa(绝对压力),因此ΔPt=0Pa
温度对气密性检漏机的影响:
综上所述,我们可以得出结论,在真空环境中,它不受温度变化的影响吗?测试偏差与测试压力成正比。测试压力越接近真空,偏差越小。如果实际环境温度稳定,测试结果对不同温度环境的影响很小。例如,温度环境与5相比℃差别约为5/(273)20)≈1.7%。如果在测试过程中发生温度变化,将对测试结果产生重大影响。
正常情况下,气密性检漏仪会导致温度变化影响试验:
1.气体分子在充气过程中的摩擦加热
常见现象:气体分子在充气过程中的摩擦会引起热量。根据气体方程。PV=NRT,可以知道,测试室内的压力会增加。充气后,温度会慢慢恢复到正常室温。
如果稳压时间不够,换句话说,内腔内的温度仍处于下降到测试期的恢复期,那么温度下降引起的压降将直接反映在测试的泄漏量上。
影响:在测试阶段,泄漏量由大到小变化,直至稳定。
方法一:增加电压稳定性。在进入测试阶段之前,测试室的内部温度自然会达到外部温度。这是直接、有效的方法。缺点是,对于一些不易导电的产品,如较大的室内空间或塑料部件,产品内部温度可能需要很长时间才能恢复到正常温度。这将导致更长的测试周期,并影响消耗效率。
方法二:缩短温度恢复时间。对于室内空间较大的产品,请尽量填充试验腔,以减少试验腔的体积。
方法三:在测试参考端添加与测试产品相同的参考件或储气罐,以抵消相同的温度变化。(这是压差测试方法比直接压力测试方法的优点之一)
2.排气温度
常见现象:试验结束后,产品内气体排出后,带走产品和密封工具上的局部温度。如果同一产品的二次试验立即停止,即电压稳定后,产品内部的气体温度状态将首先降低,然后上升。在试验阶段,这将导致内腔内压力略有上升,从而抵消局部泄漏。
影响:当重复测试同一产品时,测试结果将显示低于一次。如果重复测量中间距离时间,则重复测试结果,影响测试的稳定性。
处理方法:重复测试同一产品时,两次测试之间需要足够的时间,才能使产品恢复正常测试状态,每次测试的时间间隔较好不同。在设备上重复测试时,您可以选择停止多个产品周期的测试。